Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: BS IEC 63229:2021
Ausgabedatum: 31.08.2023
Seiten: 24
Land: Britische technische Norm