Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate.
Available languages: English
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: BS IEC 63229:2021
Publication date: 31/08/2023
Pages: 24
Country: British technical standard