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Aktiv Normen | Herausgegeben: 18.08.2020
BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 309.10 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS ISO 16413:2020
Ausgabedatum: 18.08.2020
Seiten: 42
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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