Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 18.08.2020
BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 309.10 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: BS ISO 16413:2020
Dátum vydania: 18.08.2020
Stránok: 42
Krajina: Britská technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: DefinitivePopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
