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Aktiv Normen | Herausgegeben: 31.03.2022
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 263.20 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS ISO 17109:2022
Ausgabedatum: 31.03.2022
Seiten: 32
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 19125 7 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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