Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 31.03.2022
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 263.20 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: BS ISO 17109:2022
Dátum vydania: 31.03.2022
Stránok: 32
Krajina: Britská technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
ISBN: 978 0 539 19125 7 Status: DefinitivePopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
