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Aktiv Normen | Herausgegeben: 21.11.2024
BS ISO 20263:2024-TC
Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 512.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS ISO 20263:2024-TC
Ausgabedatum: 21.11.2024
Seiten: 145
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 34372 4 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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