Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: BS ISO 25498:2025-TC
Ausgabedatum: 27.05.2025
Seiten: 132
Land: Britische technische Norm