Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS ISO 25498:2025-TC
Datum vydání: 27.05.2025
Stran: 132
Země: Britská technická norma