ČSN 356575

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Verfügbare Sprachen: Tschechisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 23.50 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN 356575

Ausgabedatum: 29.03.1991

Seiten: 68

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

překladem IEC 759. Do normy jsou doplněna v čl. 2 a 3 doplňující ustanovení označená "čs. doplněk". Norma stanoví metody zkoušení pro spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Tyto systémy sestávají z polovodičového detektoru a z elektronické části pro zpracování signálu, připojené k amplitudovému analyzátoru/čítači. Metody zkoušení pro amplitudové analyzátory čítače nejsou v této normě zahrnuty. V poměrně rozsáhlé normě je rozsáhlá i názvoslovná část (str. 2 až 12) a používané symboly (str. 12 až 15). Dále jsou normalizovány obecné a společné údaje v části "úvod" a "všeobecně". Konečně jsou normalizovány vlastní požadavky na detektory a na měření (linearita výšky impulsu, vlivy četnostní závislosti, vlivy přetížení, detekční účinnost a další). ČSN 35 6575 byla schválena 14.3.1991 a nabyla účinnosti od 1.2.1992

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog