ČSN 356575

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Available languages: Czech

Available design: Print design

from 27.30 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN 356575

Publication date: 29/03/1991

Pages: 68

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

překladem IEC 759. Do normy jsou doplněna v čl. 2 a 3 doplňující ustanovení označená "čs. doplněk". Norma stanoví metody zkoušení pro spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Tyto systémy sestávají z polovodičového detektoru a z elektronické části pro zpracování signálu, připojené k amplitudovému analyzátoru/čítači. Metody zkoušení pro amplitudové analyzátory čítače nejsou v této normě zahrnuty. V poměrně rozsáhlé normě je rozsáhlá i názvoslovná část (str. 2 až 12) a používané symboly (str. 12 až 15). Dále jsou normalizovány obecné a společné údaje v části "úvod" a "všeobecně". Konečně jsou normalizovány vlastní požadavky na detektory a na měření (linearita výšky impulsu, vlivy četnostní závislosti, vlivy přetížení, detekční účinnost a další). ČSN 35 6575 byla schválena 14.3.1991 a nabyla účinnosti od 1.2.1992

Popular Publishers

full catalog