Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement of diffusion length of minority carriers in silicon wafers by the surface photovoltage method
Verfügbare Sprachen: Tschechisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN 364639
Ausgabedatum: 01.03.2010
Seiten: 8
Land: Tschechische technische Norm