Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement of diffusion length of minority carriers in silicon wafers by the surface photovoltage method
Available languages: Czech
Available design: Print design
Designation: ČSN 364639
Publication date: 01/03/2010
Pages: 8
Country: Czech technical standard