Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-20
Ausgabedatum: 01.12.2003
Seiten: 60
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm