Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-28
Ausgabedatum: 01.12.2017
Seiten: 56
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm