Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount device prior to reliability testing
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-30
Ausgabedatum: 01.08.2005
Seiten: 36
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm