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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Ausgabedatum: 01.01.2023
Seiten: 24
Land: Tschechische technische Norm