Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Dátum vydania: 01.01.2023
Stránok: 24
Krajina: Česká technická norma