ČSN EN IEC 60749-28-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 22.40 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-28-ed.2

Ausgabedatum: 01.11.2022

Seiten: 60

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato norma stanoví postup pro zkoušení, vyhodnocování a klasifikaci součástek a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) na poškození nebo degradaci vystavením definovanému indukovanému poli elektrostatického výboje (ESD) modelu nabité součástky (CDM). Všechny zapouzdřené polovodičové součástky, tenkovrstvé obvody, součástky s povrchovou akustickou vlnou (SAW), optoelektronické součástky, hybridní integrované obvody (HIC) a vícečipové moduly (MCM) obsahující některé z těchto součástek, budou hodnoceny podle tohoto dokumentu. K provedení zkoušek jsou součástky sestaveny do pouzdra, který je podobný očekávanému konečnému použití. Tento dokument CDM se nevztahuje na model vybíjení pomocí paticového zkušebního zařízení. Tento dokument popisuje metodu indukce polem (FI). Jiná metoda (metoda přímého kontaktu (DC)) je popsána v příloze J.
Účelem tohoto dokumentu je stanovit zkušební metodu, která bude opakovaně vyvolávat poruchy CDM a poskytovat spolehlivé, opakovatelné výsledky zkoušek ESD CDM z jednotlivých zkušebních zařízení bez ohledu na typ součástky. Opakovatelné údaje budou umožňovat přesné klasifikace a srovnání úrovní citlivosti ESD CDM

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog