ČSN EN IEC 60749-28-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 26.10 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 60749-28-ed.2

Publication date: 01/11/2022

Pages: 60

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma stanoví postup pro zkoušení, vyhodnocování a klasifikaci součástek a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) na poškození nebo degradaci vystavením definovanému indukovanému poli elektrostatického výboje (ESD) modelu nabité součástky (CDM). Všechny zapouzdřené polovodičové součástky, tenkovrstvé obvody, součástky s povrchovou akustickou vlnou (SAW), optoelektronické součástky, hybridní integrované obvody (HIC) a vícečipové moduly (MCM) obsahující některé z těchto součástek, budou hodnoceny podle tohoto dokumentu. K provedení zkoušek jsou součástky sestaveny do pouzdra, který je podobný očekávanému konečnému použití. Tento dokument CDM se nevztahuje na model vybíjení pomocí paticového zkušebního zařízení. Tento dokument popisuje metodu indukce polem (FI). Jiná metoda (metoda přímého kontaktu (DC)) je popsána v příloze J.
Účelem tohoto dokumentu je stanovit zkušební metodu, která bude opakovaně vyvolávat poruchy CDM a poskytovat spolehlivé, opakovatelné výsledky zkoušek ESD CDM z jednotlivých zkušebních zařízení bez ohledu na typ součástky. Opakovatelné údaje budou umožňovat přesné klasifikace a srovnání úrovní citlivosti ESD CDM

Popular Publishers

full catalog