ČSN EN IEC 60749-34-1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 17.90 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-34-1

Ausgabedatum: 01.02.2026

Seiten: 40

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá k určení schopnosti výkonových polovodičových modulů odolávat tepelnému a mechanickému namáhání způsobenému cyklickým namáháním výkonovou ztrátou vnitřních polovodičů a vnitřních konektorů. Je založena na IEC 60749 34, ale byla vytvořena speciálně pro výkonové polovodičové moduly, včetně tranzistorů IGBT, MOSFET, diod a tyristorů.
Požaduje-li zákazník individuální použití nebo specifické směrnice pro danou aplikaci (například směrnice ECPE AQG 324), mohou být podrobnosti zkušební metody založeny na těchto požadavcích, liší-li se od obsahu tohoto dokumentu.
Tato zkouška způsobuje únavu materiálu a je považována za destruktivní

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog