ČSN EN IEC 60749-34-1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 20.90 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 60749-34-1

Publication date: 01/02/2026

Pages: 40

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá k určení schopnosti výkonových polovodičových modulů odolávat tepelnému a mechanickému namáhání způsobenému cyklickým namáháním výkonovou ztrátou vnitřních polovodičů a vnitřních konektorů. Je založena na IEC 60749 34, ale byla vytvořena speciálně pro výkonové polovodičové moduly, včetně tranzistorů IGBT, MOSFET, diod a tyristorů.
Požaduje-li zákazník individuální použití nebo specifické směrnice pro danou aplikaci (například směrnice ECPE AQG 324), mohou být podrobnosti zkušební metody založeny na těchto požadavcích, liší-li se od obsahu tohoto dokumentu.
Tato zkouška způsobuje únavu materiálu a je považována za destruktivní

Popular Publishers

full catalog