Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Definitions of tests method terms for semiconductor radiation detectors and scintillation counting
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN IEC 596
Ausgabedatum: 01.02.1994
Seiten: 8
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm