Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Definitions of tests method terms for semiconductor radiation detectors and scintillation counting
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: ČSN IEC 596
Dátum vydania: 01.02.1994
Stránok: 8
Poznámka: Neplatné
Krajina: Česká technická norma