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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: DIN EN 60749-25:2004-04
Ausgabedatum: 01.04.2004
Seiten: 15
Land: Deutsche technische Norm