Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: DIN EN 60749-25:2004-04
Datum vydání: 01.04.2004
Stran: 15
Země: Německá technická norma