Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.04.2013

DIN EN 60749-27:2013-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).)

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Detailinformationen

Bezeichnung: DIN EN 60749-27:2013-04

Ausgabedatum: 01.04.2013

Seiten: 15

Land: Deutsche technische Norm

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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).

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