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Active standard | Published: 01/04/2013
DIN EN 60749-27:2013-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
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Detail information
Designation: DIN EN 60749-27:2013-04
Publication date: 01/04/2013
Pages: 15
Country: German technical standard
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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).Popular Publishers
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