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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: DIN EN 60749-6:2017-11
Ausgabedatum: 01.11.2017
Seiten: 9
Land: Deutsche technische Norm