Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě. (Text normy není součástí výtisku)..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: DIN EN 60749-6:2017-11
Datum vydání: 01.11.2017
Stran: 9
Země: Německá technická norma