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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.02.2026
DIN EN IEC 63185:2026-02
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method.
(Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 84.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: DIN EN IEC 63185:2026-02
Ausgabedatum: 01.02.2026
Seiten: 14
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.Populäre Herausgeber
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