Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/02/2026
DIN EN IEC 63185:2026-02
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method.
(Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 97.60 USD
show on eshop
Detail information
Designation: DIN EN IEC 63185:2026-02
Publication date: 01/02/2026
Pages: 14
Country: German technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
