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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: E DIN EN IEC 60749-23:2025-10
Ausgabedatum: 01.10.2025
Seiten: 18
Land: Deutsche technische Norm