E DIN EN IEC 60749-23:2025-10 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.10.2025

E DIN EN IEC 60749-23:2025-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Deutsch

Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt

ab 69.90 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: E DIN EN IEC 60749-23:2025-10

Ausgabedatum: 01.10.2025

Seiten: 18

Land: Deutsche technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.