Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.10.2025
E DIN EN IEC 60749-23:2025-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky a německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 69.90 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: E DIN EN IEC 60749-23:2025-10
Datum vydání: 01.10.2025
Stran: 18
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
