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VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
(VDE 0884-749-24. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: E DIN EN IEC 60749-24:2025-04
Ausgabedatum: 01.04.2025
Seiten: 17
Land: Deutsche technische Norm