Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
Označení: E DIN EN IEC 60749-24:2025-04
Datum vydání: 01.04.2025
Stran: 17
Země: Německá technická norma