Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: GB/T 13388-2009
Ausgabedatum: 30.10.2009
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm