Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: GB/T 14141-2009
Ausgabedatum: 30.10.2009
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm