Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GB/T 14141-2009
Dátum vydania: 30.10.2009
Stránok: 0
Krajina: Čínska technická norma