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Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.08.2026
GB/T 42709.29-2026
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin films under room temperature
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 423.40 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: GB/T 42709.29-2026
Ausgabedatum: 28.08.2026
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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