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Aktiv Normen | Herausgegeben: 29.09.2024
GB/T 44517-2024
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Wafer curvature and cantilever beam deflection test methods for determining residual stresses of MEMS films
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 328.80 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: GB/T 44517-2024
Ausgabedatum: 29.09.2024
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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