Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement method for topographic parameters of high-aspect-ratio microstructures utilize microscopic interferometry
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: GB/T 48095-2026
Ausgabedatum: 28.08.2026
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm