Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement method for topographic parameters of high-aspect-ratio microstructures utilize microscopic interferometry
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 48095-2026
Publication date: 28/08/2026
Pages: 0
Country: Chinese technical standard