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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.09.2010
GOST R 8.698-2010
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Verfügbare Sprachen: Russisch, Englisch und Russisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 144.30 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: GOST R 8.698-2010
Ausgabedatum: 01.09.2010
Seiten: 38
Land: Russische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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