Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
State system for ensuring the uniformity of measurements. Reflectometers of the extreme ultraviolet radiation for measurements of the characteristics of multilayer nanostructures in the wavelength range 10 to 30 nm. Procedure of measurements
Verfügbare Sprachen: Russisch, Englisch und Russisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: GOST R 8.716-2010
Ausgabedatum: 01.01.2012
Seiten: 12
Land: Russische technische Norm