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Aktiv Normen | Herausgegeben: 11.10.2017
IEC/TR 63133-ed.1.0
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 3 578.60 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: IEC/TR 63133-ed.1.0
Ausgabedatum: 11.10.2017
Seiten: 17
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.Populäre Herausgeber
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