Aktiv Normen | Herausgegeben: 29.04.2009

IEC 60747-14-3-ed.2.0

Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-3: Capteurs a semiconducteurs - Capteurs de pression)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60747-14-3-ed.2.0

Ausgabedatum: 29.04.2009

Seiten: 37

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

IEC 60747-14-3:2009 specifies requirements for semiconductor pressure sensors measuring absolute, gauge or differential pressures. The major technical change with regard to the previous edition is the addition of a new subclause 5.9 (measuring method of linearity). This publication should be read in conjunction with IEC 60747-1:2006. La CEI 60747-14-3:2009 specifie les exigences pour les capteurs de pression a semiconducteurs mesurant les pressions absolues, manometriques ou differentielles. Les modifications techniques majeures par rapport a ledition precedente sont les suivantes: ajout dun nouveau paragraphe 5.9 (methode de mesure de la linearite). Cette publication doit etre lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.

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