Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-3: Capteurs a semiconducteurs - Capteurs de pression)
Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM
Označení: IEC 60747-14-3-ed.2.0
Datum vydání: 29.04.2009
Stran: 37
Země: Mezinárodní technická norma
IEC 60747-14-3:2009 specifies requirements for semiconductor pressure sensors measuring absolute, gauge or differential pressures. The major technical change with regard to the previous edition is the addition of a new subclause 5.9 (measuring method of linearity). This publication should be read in conjunction with IEC 60747-1:2006. La CEI 60747-14-3:2009 specifie les exigences pour les capteurs de pression a semiconducteurs mesurant les pressions absolues, manometriques ou differentielles. Les modifications techniques majeures par rapport a ledition precedente sont les suivantes: ajout dun nouveau paragraphe 5.9 (methode de mesure de la linearite). Cette publication doit etre lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.