Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.08.2002

IEC 60749-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)

Verfügbare Sprachen: Spanisch, Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 26.00 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60749-1-ed.1.0

Ausgabedatum: 30.08.2002

Seiten: 15

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres)et etablit des dispositions communes a toutes les autres parties de la serie. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog