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Aktiv Normen | Herausgegeben: 12.08.2003
IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 Correction
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 1.50 USD
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Ausgabedatum: 12.08.2003
Seiten: 0
Anmerkung: Correction
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.Populäre Herausgeber
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